| 發布日期：2023-06-28 瀏覽：1835次 |
實驗實施
在實驗中，利用NIRQuest近紅外光譜儀對5種鍍膜玻璃樣品進行了100μm狹縫和1200-2100nm波段的光譜分析。測試系統由大功率鹵鎢燈、400μm反射探頭和反射/透射光學平臺(固定式)組成。以鏡面反射率標準(85-95%，800-2500nm)作為參考。適用于Windows、Mac OS和Linux的光譜套件應用程序和Java光譜平臺。
玻璃樣品的未涂覆表面被降低到樣品架中，以確保由探針測量的涂覆表面的反射率。借助光學平臺，探頭測量90°處的鏡面反射，當入射角等于反射角時，鏡面反射隨著表面光滑度的提高而增加。測量中不需要暗室或黑箱，全部在日光燈下進行。高功率鎢鹵素燈(20瓦)提供連續光譜(360-2000納米)。模擬實際生產條件，反射探頭與每個樣品表面的距離保持在7 cm左右。
公司的近紅外光譜儀采用了高性能的InGaAs陣列探測器、緊湊型燈具設計、熱電制冷配置和低噪音電子元件。NIRQuest256-2.1(即本實驗中使用的256像素光譜儀RRB)適用于長波段探測(最高響應在1900nm左右)。采用高采集模式可以有效地提高系統的靈敏度，適用于低光度、低濃度的測量。此外，光譜儀的集成時間極短，最小為1MS，更適合大批量生產環境。
NIRQuest近紅外光譜儀還具有外部硬件觸發功能，允許用戶在外部事件觸發時采集數據，或者在數據采集后觸發事件。該功能對于太陽模擬器自動過程或同步閃光過程中的數據采集尤為重要。
實驗結果
測試中未進行研究任何一個平均和平滑圖像處理，數據仍表現出一種很好的穩定性，因此只采集需要一套系統光譜。（見圖2）樣品的反射光譜分析表明在5片樣品中反射率都隨波長有同等幅度的增加。近紅外光譜儀反射率峰值在2000 nm左右。并且可以反光最弱與最強的樣品信息之間，反射率的差別在不同測試工作波長變化范圍的兩端發展相對來說較小，而在1700 nm附近存在差異具有顯著。鍍膜樣品的反射信號強度在較短波段大約為25％，而在時間較長波段可達到80％，這些問題數值方法均為企業相對于鏡面反射行為標準實驗測得的相對反射率（鏡面反射相關標準在近紅外波段的反射率圖譜接近平坦直線）。
